Les unités de mesure/source de précision de la série TH1991/TH1992 peuvent produire jusqu'à ±210 V de tension continue, ±3 A de courant continu et ±10,5 A de courant d'impulsion, une alimentation en énergie minimale de 10 fA/100 nV et une résolution de mesure,prise en charge de l'échantillonnage à grande vitesse, et peut générer des formes d'onde arbitraires.

La série TH1991/TH1992 de source/unité de mesure de précision adopte un écran tactile capacitif de 7 pouces, avec le système d'exploitation Linux comme couche inférieure,interface utilisateur graphique interactive et différents modes d'affichageLa fonction de balayage de courbe I/V peut compléter le test de fonction IV sans connexion à l'ordinateur hôte,qui peut améliorer de manière significative l'efficacité des essais.

La série TH1991/TH1992 de sources/unités de mesure de précision dotées de fonctions de puissance et de mesure complètes et intégrées est idéale pour tester des semi-conducteurs, des dispositifs actifs/passifs,et une variété d'autres dispositifs et matériaux.

La série TH1991/TH1992 d'unités de source/de mesure de précision est largement utilisée dans la R&D et les applications éducatives, le développement industriel, les essais et la fabrication.

Caractéristiques

• 10fA de sortie de courant et résolution de mesure; 100nV de sortie de tension et résolution des composants

• tension de sortie maximale ±210V; courant de sortie maximal ±3,03A (DC) /±10,5A (impulsion).

• Prise en charge des sorties CC, impulsion, balayage et liste.

• intervalle d'échantillonnage minimum de 1 μs

• Fonction de balayage de courbe I/V intégrée, fonction d'affichage de défilement de forme d'onde dans le domaine temporel

• La largeur d'impulsion de la sortie d'impulsion peut être aussi petite que 50 μs

• Mesure à deux fils / mesure à quatre fils

• La constante de temps du filtre de sortie (ou fréquence de coupure) peut être réglée librement pour obtenir n'importe quelle sortie de réponse de fréquence

• fonction de tri de 14 niveaux, y compris les modes de classement et de tri.

• Fonction d'opération mathématique, fonction de filtrage de moyenne mobile, fonction de soustraction de déviation

• fonction d'analyse des paramètres des semi­conducteurs pour générer rapidement des courbes caractéristiques des dispositifs couramment utilisés.

• Quatre modes de base de la source de tension, de la source de courant, du voltmètre, de l'ampère ou de la résistance

• méthode d'essai Delta à faible résistance, qui peut compenser efficacement l'erreur de mesure causée par la force électromotrice thermique.

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