Analyseur de paramètres de semi-conducteurs CPU double Voltage maximal 40V LCR 0,56ms 10 Bins
Analyseur de paramètre de semi-conducteur
,analyseur de lcr
,analyseur de semi-conducteurs
TH511 Analyseur CV à semi-conducteurs: double processeur, tension maximale ± 40 V, LCR 0,56 ms, 10 compartiments
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Application dans les essais et la caractérisation: la source de courant de biais CC trouve une large utilisation dans les essais et la caractérisation de composants électroniques, tels que les transistors, les diodes,les circuits intégrés (CI)Il permet d'évaluer le comportement de l'appareil dans des conditions de biais spécifiques, facilitant la mesure de paramètres tels que le gain, la linéarité, le courant de fuite et la tension de seuil.En plus, il est employé dans l'étalonnage des équipements de mesure, assurant des résultats précis et traçables.
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Caractéristiques
10Écran tactile capacitif de 0,1 pouce, résolution 1280*800, système Linux
Architecture à double processeur, la vitesse de test la plus rapide de la fonction LCR est de 0,56 ms
Trois méthodes d'essai: test par spot, numérisation par liste et numérisation graphique (facultatif)
Quatre paramètres parasitaires (Ciss, Coss, Crss, Rg) sont mesurés et affichés sur le même écran.
Scan de courbe CV, scan de courbe Ciss-Rg
Conception intégrée: source de basse tension LCR + VGS + source de haute tension VDS + commutation de canal + PC
Test standard à 2 canaux, qui peut tester deux appareils ou deux appareils à double puce en même temps, le canal peut être étendu à 6, les paramètres du canal sont stockés séparément
Chargement rapide, raccourcit le temps de charge du condensateur et permet des tests rapides
Réglage automatique du délai
Le système de régulation de l'intensité de la lumière doit être équipé d'un système de régulation de l'intensité de la lumière.
Tri du bac 10
Applications
Composants de semi-conducteurs/composants de puissance
Test de capacité parasitaire et analyse des caractéristiques C-V des diodes, triodes, MOSFET, IGBT, thyristors, circuits intégrés, puces optoélectroniques, etc.
Matériau à base de semi-conducteurs
Analyse des caractéristiques de la gaufre, C-V
Matériau à cristaux liquides
Analyse de la constante élastique
Élément de capacité
Essai et analyse des caractéristiques C-V du condensateur, essai et analyse du capteur capacitif
Les spécifications
| Modèle | Le numéro TH511 | Le numéro TH512 | Le numéro TH513 | ||||
| Le canal | 2 (4/6 Ch en option) | 2 | |||||
| Affichage | Affichage | 10écran tactile capacitif de 0,1 pouce | |||||
| Ratio | 0.672916667 | ||||||
| Résolution | 1280*RGB*800 | ||||||
| Paramètre de test | Ciss, Coss, Crss, Rg. Quatre paramètres sélectionnables arbitrairement | ||||||
| Fréquence des essais | Portée | 1 kHz à 2 MHz | |||||
| Précision | 0.0001 | ||||||
| Résolution | 10mHz1.00000kHz-9.99999kHz Il est temps de passer à l'action. | ||||||
| 100mHz10,0000kHz à 99,9999kHz | |||||||
| 1 Hz100.000 kHz à 999,999 kHz | |||||||
| 10Hz1,00000MHz à 2,00000MHz | |||||||
| Niveau de test | Plage de tension | 5 mVrms à 2 Vrms | |||||
| Précision | ± (10%*Value de réglage+2mV) | ||||||
| Résolution | 1mVrms5mVrms-1mVrms | ||||||
| 10mVrms1Vrms2Vrms | |||||||
| Vgs | Portée | 0 à ± 40 V | |||||
| Précision | 1%* tension de réglage + 8 mV | ||||||
| Résolution | Le réglage de la tension doit être effectué à l'aide d'un dispositif de régulation de la tension. | ||||||
| 10mV10V - ± 40V | |||||||
| Vds | Portée | Pour les appareils à sous-vêtements | 0 à 1500 V | 0 à 3000 V | |||
| Précision | 1%* Voltage de réglage + 100 mV | ||||||
| Impédance de sortie | 100, ± 2%@1 kHz | ||||||
| Le calcul | Déviation absolue par rapport à la valeur nominale, pourcentage de déviation par rapport à la valeur nominale | ||||||
| Fonction de calibrage | Ouvert, court, chargé | ||||||
| Moyenne de mesure | 1 à 255 fois | ||||||
| Temps de conversion AD (ms/temps) | Rapide +: 0,56 ms (> 5 kHz), rapide: 3,3 ms, moyen: 90 ms, lent: 220 ms. | ||||||
| La précision de base | 0.001 | ||||||